晶體管特性圖示儀產品及廠家
武漢普賽斯半導體分立器件測試儀之數字源表，特別適用于精密電壓源和電流源驅動，且同時進行電流與電壓測量的測試應用。所有源表皆提供精密的電壓和電流源測量能力。每個源表均由一個高穩(wěn)定的直流源和一個真儀器的5位半多功能表組成。該電源特性包括：低噪聲，高精度和回讀功能。萬用表功能包括高重復性和低噪音。其結果
更新時間:2025-04-29
半導體i-v特性曲線分析儀認準普賽斯儀表，廠家直銷、服務完善！普賽斯s型源表國產自主研發(fā)，單通道，不支持脈沖輸出，觸摸屏操作，支持多種通訊方式，rs-232、gpib及以太網；z大輸出電壓達300v，小電流分辨率10pa，支持usb存儲
更新時間:2025-04-29
半導體電性能測試儀認準普賽斯儀表，國產自主研發(fā)，廠家直銷！性價比高，測試范圍更廣，輸出電壓高達300v，支持usb存儲，一鍵導出報告，符合大環(huán)境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統(tǒng)解決方案，及時指導客戶編程，加速測試系統(tǒng)開發(fā)
更新時間:2025-04-29
p系列分辨率1pa國產數字源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達10a，z大輸出電壓達300v，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。p系列源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
更新時間:2025-04-29
激光二管liv特性測試數字源表認準武漢生產廠家普賽斯儀表，普賽斯開發(fā)的liv 測試系統(tǒng)采用 國產 s 型數字源表 為核心，結合測試軟件以及第三方設備積分球探測器完成 ld 的 liv 測試。系統(tǒng)結構簡單、精度高、k靠性好、速度快，提高生產效率的同時也增加了測試精度和k靠性，并且降低了測試成本。
更新時間:2025-04-29
普賽斯儀表太陽能電池放電掃描曲線儀可對每個電池單元獨立或順序iv特性測試，顯示iv特性曲線和isc, voc, pmax, ff, η和電池表面溫度等參數，每個電池單元測試結果可以保存在一個excel文件中，可進行對電池表面均勻性分布進行統(tǒng)計分析。
更新時間:2025-04-29
數字源表iv掃描光伏電池板認準普賽斯儀表，普賽斯的測試方案通過自主研發(fā)的軟件可對每個電池單元獨立或順序iv特性測試，顯示iv特性曲線和isc, voc, pmax, ff, η和電池表面溫度等參數，每個電池單元測試結果可以保存在一個excel文件中，可進行對電池表面均勻性分布進行統(tǒng)計分析。
更新時間:2025-04-29
數字源表搭建集成電路實驗平臺的目的：通過實驗動手操作，加深對半導體物理理論知識的理解，掌握半導體材料和不同器件性能的表征方法及基本實驗技能，培養(yǎng)分析問題和解決問題的能力。
更新時間:2025-04-29
武漢普賽斯對標2400國產數字源表s300型，特別適用于精密電壓源和電流源驅動，且同時進行電流與電壓測量的測試應用。所有源表皆提供精密的電壓和電流源測量能力。每個源表均由一個高穩(wěn)定的直流源和一個真儀器的5位半多功能表組成。
更新時間:2025-04-29
普賽斯雙性源測數字源表自主研發(fā)生產，對標美國2400，b2901；可實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率；支持四象限工作，測量范圍廣，電壓高300v，電流低至100pa；支持usb存儲
更新時間:2025-04-29
源表搭建四探針法測量半導體電阻率實驗找普賽斯儀表，武漢普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度源表（smu），可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安到安培可控，測量電壓分辨率 高達微伏。支持四線開爾文模式，適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到z確的測試結果。
更新時間:2025-04-29
數字源表搭建半導體場效應晶體管iv特性測試實驗的主要目的是通過實驗幫助工程師提取半導體器件的基本 i-v 特性參數，并在整個工藝流程結束后評估器件的優(yōu)劣。在半導體制程的多個階段都有應用，如金屬互連，鍍層階段，芯片封裝后的測試等。
更新時間:2025-04-29
p系列0-10a脈沖式數字源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達10a，z大輸出電壓達300v，支持四象限工作
更新時間:2025-04-29
脈沖iv測試儀是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達10a，z大輸出電壓達300v，支持四象限工作
更新時間:2025-04-29
spa-6100半導體參數測試系統(tǒng)cv+iv曲線掃描儀可以幫助用戶根據測試需要，靈活選配測量單元進行升。產品支持z高1200v電壓、100a大電流、1pa小電流分辨率的測量，同時檢測10khz至1mhz范圍內的多頻ac電容測量
更新時間:2025-04-29
南京頌儒儀器設備有限公司大量供應 日本flow-cell流量計nflt-rflt-h型 fly-h型 flw-m型 flg型flt-hab型 nflt-r型 nfly-rc型 nfly-r型fdt-n型 fdy-n型 fdg-nc型dnt-s型 dny-s型 dng-s型 dig-s型
更新時間:2025-04-28
1.該儀器在標準的半導體特性圖示儀基礎上進行了優(yōu)化設計，具有體積小，可靠性高，使用簡便的特點。 2.具有交替測量顯示功能，可同時顯示二極管的正、反相特性。 3.最高集電極掃描電壓可達5kv，最大電流可達2a，基本滿足了家用電器中各類半導體器件的測試需要。 4.適用三極管、二極管、場效應管、可控硅、穩(wěn)壓管和三端穩(wěn)壓器等參數設定。
更新時間:2025-04-24
我司業(yè)供應歐洲工控產品、儀器儀表及備品備件，歡迎來電咨詢。如需詢價,煩請告知如下信息:所需產品品牌+型號+數量+貴司名稱/電話/傳真/聯系人 ,我們將盡快給您提供報價!
更新時間:2025-04-24
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更新時間:2025-04-24
本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓及斷態(tài)電流、反向電壓及反向電流(irsm、irrm)的測試設備。適用于各種晶閘管、整流管及晶閘管、整流管模塊的參數測試。本儀器設計先進，操作簡便，采用數字表顯示測試結果，具有精度高，重復性好，對被測器件自動保護等特點。其測試原理符合gb4024-83標準的規(guī)定，是電力半導體器件生產廠和使用單位理想的檢測設備。
更新時間:2025-04-23
dt307-qt2/centerqt2半導體管特性圖示儀可測量二極管、三極管的低頻直流參數，大集電極電流超過50a，能滿足500va以下器件的測試。
更新時間:2025-04-23
全不銹鋼制內管波紋管外徑Ø20mm*1.5或6分兩種，長度1米。一般用于活動點，當使用綜合電纜時，每活動點至少用2-3根（可定做1.5米和2米）
更新時間:2025-04-23
dt307-xj4822 crt讀出圖示儀，外觀新穎，技術先進，操作方便，能對各類二極管、三極管、場效應管等靜態(tài)參數測試。
更新時間:2025-04-23
半導體管晶體管特性測試儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描功能，可以對被測半導體器件的特性進行對比分析，便于晶體管的配對。
更新時間:2025-04-23
dt307-bw4810/4810a型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。
更新時間:2025-04-23
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-04-09
廠家深圳市華科智源科技有限公司為您提供美國itc57300mos管igbt功率器件動態(tài)參數測試儀的詳細產品價格、產品圖片等產品介紹信息，您可以直接聯系廠家獲取美國itc57300mos管igbt功率器件動態(tài)參數測試儀的具體資料
更新時間:2025-04-03
hustec-1600a-mt是一款大功率器件參數測試儀，可用于igbt單管及模塊，sic器件，mos管，二極管等功率器件的靜態(tài)參數測試。
更新時間:2025-04-03
動態(tài)參數測試系統(tǒng)該套測試設備主要可測試以下參數：適用于電流不超過1500a、電壓不超過3500v的igbt開關時間的測試。設備的相關電壓、電流等參數可根據客戶要求定制。
更新時間:2025-04-03
半導體分立器件測試系統(tǒng)系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。
更新時間:2025-04-03
hustec-580首件檢測儀系統(tǒng)首件測試 1. 新建待測首件測試報表 2. 將待測首件放入檢測儀內，對首件圖片進行拍照，并自動識別空焊元件 3. 開始測試阻容感元件并自動判定pass,fail(有聲光報警) 4. 對ic、三極管、二極管等不可測量元件，可調出元件庫進行型號規(guī)格方向對比
更新時間:2025-04-03
雪崩能量測試儀廠家itc55100雪崩能量測試儀是原成功產品itc5510的升級版本，它能執(zhí)行itc5510系列的所有測試，同時增加了許多功能，如提高測試精度，測試結果的收集，查看測試結果，連接多個被測品。itc55100可以用來對功率mosfet和igbt的耐用性測試。 它還能測試單，雙二極管，使用itc55 rsf輸出選擇器盒還可以測量igbt的正向和反向偏置。
更新時間:2025-04-03
功率循環(huán)測試儀系統(tǒng)該系統(tǒng)是一套動態(tài)綜合測試系統(tǒng)、測試參數多、精度高、 具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續(xù)工作的特點，測試程序由計算機控制，程序設定完成后可自動測試， 系統(tǒng)采用內控和外控兩種方式。便于工作人員操作。
更新時間:2025-04-03
臺式桌面型smt首件檢測儀系統(tǒng)將bom，坐標及圖紙進行完美核對，實時顯示檢測情況，避免漏檢，可方便根據誤差范圍 對元件值合格值自動判定，對多貼，錯料，極性和封裝進行方便檢查；傳統(tǒng)方式完全依靠人員把關，容 易出錯。
更新時間:2025-04-03
igbt功率器件動態(tài)參數測試儀主機可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管（igbt），功率mosfet，二極管，雙極型器件的測試頭。主機包括所有測試設備和必要的軟件分析，可執(zhí)行電阻和電感的開關時間，開關損耗，柵極電荷，trr /的qrr和其他瞬態(tài)測試。
更新時間:2025-04-03
功率半導體參數測試系統(tǒng)適合各大研究所做元器件檢驗以及在線開發(fā)器件做生產測試。系統(tǒng)可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿足用戶大生產需要，故障率低也保證了用戶的生產效率。
更新時間:2025-04-03
半導體分立器件測試儀升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000v,1250a;采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300us.
更新時間:2025-04-03
華科智源-iol間歇壽命測試系統(tǒng)，測試各種封裝的mosfet、igbt、三管、diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫和低溫，加速芯片內各種組件材料和結合面的熱機械應力，驗證封裝、內部
更新時間:2025-04-03
華科智源-二管浪涌電流測試儀，可測試二管，mos，igbt，以及sic器件浪涌電流能力，可輸出底寬10ms，8.3ms，1ms，10us等正弦半波或方波，浪涌電流根據具體需求可選擇800a,1200a,3000a以及定制8000a以上，大電流可達50ka;品牌： 華科智源名稱： 浪涌電流測試儀型號： hustec-ifsm-1200a
更新時間:2025-04-03
長期高價上門回收：倒閉工廠、工廠閑置、個人閑置二手儀器儀表 agilent, r&s、hp、anritsu、advantest、marconi、陽光、愛德萬，美國泰克等世界知名品牌的網絡分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、數字通訊測試儀、高頻信號源、高頻示波器、調制度儀，音頻分析儀，為您解決儀器閑置等問題，使您的資金快速回籠。專業(yè)儀器回收，長期回收電子儀器，讓你的閑置儀器變廢為寶，歡迎來電咨詢。
更新時間:2025-02-15
長期高價上門回收：倒閉工廠、工廠閑置、個人閑置二手儀器儀表 agilent, r&s、hp、anritsu、advantest、marconi、陽光、愛德萬，美國泰克等世界知名品牌的網絡分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、數字通訊測試儀、高頻信號源、高頻示波器、調制度儀，音頻分析儀，為您解決儀器閑置等問題，使您的資金快速回籠。專業(yè)儀器回收，長期回收電子儀器，讓你的閑置儀器變廢為寶，歡迎來電咨詢。
更新時間:2025-02-15
半導體分立器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導/gfe/gfs、壓降/vf、導通內阻rds(on)）。測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二管類”“三管類（如bjt、mosfet、igbt）”“保護類器件”“穩(wěn)壓集成類”
更新時間:2024-11-05
陜西天士立科技有限公司/std2000/晶體管圖示儀&曲線追蹤掃描儀可以測試si,sic,gan & igbt、mosfet、diode、bjt、scr等電子元器件的靜態(tài)直流參數和iv曲線（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導/gfe/gfs、壓降/vf、導通內阻rds(on)）
更新時間:2024-11-05
陜西天士立科技有限公司/std2000/晶體管直流參數測試儀系統(tǒng)可以測試si,sic,gan & igbt、mosfet、diode、bjt、scr等電子元器件的靜態(tài)直流參數和iv曲線（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導/gfe/gfs、壓降/vf、導通內阻rds(on)）。
更新時間:2024-11-05
optex-fa晶體管輸出型光電傳感器品牌：optex;檢測方式：對射式檢測；型號：vt-3000n；vt-3000p紅色led，實現長距離檢測，自由選擇供給電源，繼電器輸出或晶體管輸出自由選擇。1、
更新時間:2023-11-01
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