msp系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國ast(angstrom sun )公司,其可以實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量,同樣對于材料nk參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測量,為人們針對薄膜微小區(qū)域進(jìn)行分析提供了極大便利。
msp系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國ast(angstrom sun )公司,其可以實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量,同樣對于材料nk參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測量,為人們針對薄膜微小區(qū)域進(jìn)行分析提供了極大便利。