掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-02
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-02
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2025-12-02
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-12-02
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-12-02
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-12-02
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-02
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-12-02
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-02
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-02
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-02
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-02
日立s-3400n掃描電子顯微鏡特點(diǎn):1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。2. 在3kv低加速電壓時有10nm的分辨率。3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。4. s-3400n ii型具有五軸馬達(dá)臺，傾斜角度可達(dá)-20度~+90度，樣品高可達(dá)80mm。5. 分析樣品倉可以同時安裝edx ， wdx 及ebsd。6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵，潔凈、。
更新時間:2025-12-02
可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，提供5軸共心樣品臺（電動或手動）的臺式sem，中心傾斜對于3d重構(gòu)功能至關(guān)重要。高分辨率，與傳統(tǒng)sem一樣優(yōu)異；高空間利用率和便攜性，易于移動，可安裝在任何地方；無需等待：抽氣90/排氣10；高度可靠的高壓組件；無需對準(zhǔn)電子槍。
更新時間:2025-12-02
掃描隧道顯微鏡◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡單方便；◆ 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；◆ 4x物鏡光學(xué)定位，無需調(diào)焦，實(shí)時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，防震效果好；
更新時間:2025-12-02
教學(xué)型掃描隧道顯微鏡◆ 小型化及可拆卸化設(shè)計，方便攜帶及課堂教學(xué)；◆ 檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；◆ 側(cè)面ccd觀測系統(tǒng)，實(shí)時觀察探針進(jìn)針狀態(tài)及定位樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，防震效果好；
更新時間:2025-12-02
非導(dǎo)電性樣品無須涂層、快速簡便■ 任何人都能使用的自動調(diào)整功能■ 交替樣品后兩分鐘即可獲得滿意的影像■ 體積小巧，靈活快捷■ 最便利化的gui界面
更新時間:2025-12-02
sonix™公司是世界500強(qiáng)丹納赫集團(tuán)(nyse: dhr)下的全資子公司，是全球超聲波掃描檢測儀和無損檢測設(shè)備的領(lǐng)先制造商。自1986年成立以來，sonix在無損檢測領(lǐng)域中始終不斷改革創(chuàng)新，是第一家基于微機(jī)平臺，提供全數(shù)字化成像方案的公司。sonix™一直致力于技術(shù)革新，提供給客戶最領(lǐng)先的聲學(xué)檢測技術(shù)。
更新時間:2025-12-02
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-02
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-02
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-02
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-02
蔡司 evo系列掃描電子顯微鏡evo系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析域，憑借廣泛的可選配置， evo 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
更新時間:2025-12-02
蔡司 sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡：用于高品質(zhì)成像與高分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡將高的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。sigma 300 性價比高。s
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位mems加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
更新時間:2025-12-02
zem15臺式掃描電子顯微鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kv范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),可同時搭配二次電子探測器,散射電子探測器,zem15臺式掃描電子顯微鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲zem15臺式掃描電子顯微鏡。zem15臺式掃描電鏡速度快，信號采集帶寬10m，可以在視頻模式下流暢實(shí)時的顯示樣品。
更新時間:2025-12-02
zem18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達(dá)10m，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、tec冷臺等原位測試系統(tǒng)）
更新時間:2025-12-02
zem20臺式掃描電微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。信號采集帶寬高達(dá)10m，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時觀察樣品。豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺、加熱臺、tec冷臺等）。
更新時間:2025-12-02
zem15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kv范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000n原位拉伸樣品臺，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
更新時間:2025-12-02
evo系列電鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)的物鏡設(shè)計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界先的x射線分析技術(shù)。
更新時間:2025-12-02
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時間:2025-12-02
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時間:2025-12-02
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動化域的服務(wù)貿(mào)易商，設(shè)有德國分公司,致力于為國內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)低價的德國及歐洲生產(chǎn)的各類工控自動化產(chǎn)品、儀器儀表、備品備件等。通過德國分公司在歐洲范圍內(nèi)采購,每周日由德國分公司拼單發(fā)貨并集中辦理進(jìn)口手續(xù),為您節(jié)省運(yùn)費(fèi)和清關(guān)等費(fèi)用;每周至少空運(yùn)發(fā)貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開創(chuàng)美好的明天！
更新時間:2025-12-02
場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus8200 被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)，半導(dǎo)體?電子行業(yè)，生命科學(xué)，材料科學(xué)等領(lǐng)域的材料結(jié)構(gòu)觀察。近年來，新一代的電子器件應(yīng)用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復(fù)合材料等的研究作為先進(jìn)科學(xué)技術(shù)的中堅技術(shù)，在全世界范圍內(nèi)受到熱捧。
更新時間:2025-12-01
nx2000新型雙束系統(tǒng)（超高精密聚焦離子束fib和高分辨場發(fā)射電鏡fe-sem），具有高效率的樣品制備能力、高精度納米微加工能力和高分辨圖像觀察能力。新的低損傷加工技術(shù)可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應(yīng)用的需求；而新開發(fā)的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導(dǎo)航功能則進(jìn)一步提高了分析效果。
更新時間:2025-12-01
nx9000可以自動重復(fù)進(jìn)行fib制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得一系列的截面圖像，從而實(shí)現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對角構(gòu)造。這種形式是進(jìn)行三維結(jié)構(gòu)分析最理想的結(jié)構(gòu)，能夠穩(wěn)定收集準(zhǔn)確反映樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)的圖像。
更新時間:2025-12-01
su7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
更新時間:2025-12-01
mi4050是高效率的聚焦離子束設(shè)備，它使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng)，具有世界領(lǐng)先的sim圖像分辨率，并且tem樣品制備效果優(yōu)異。mi4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。
更新時間:2025-12-01
最新產(chǎn)品
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