掃描探針顯微鏡(SPM)產(chǎn)品及廠家

原子力顯微鏡探針
用于接觸式或輕敲模式或力的測量。非套裝,適用于bioscope afm 及 dimension 系列spm。每個基片有4個懸臂,彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 n/m,共振頻率為18-65 khz。包裝數(shù)量:10根/盒。
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡探針
力調(diào)制中的對比取決于懸臂的彈性系數(shù),必須為兩種對比材料的柔軟度的互補。彈性系數(shù)應該接近其中一種材料或介于兩種材料的柔軟度之間。這種情況下,針尖會縮進到其中一種材料中,從而提供很好的力調(diào)制成像對比。這些用于力調(diào)制的懸臂具有適中的彈性系數(shù),能為力調(diào)制成像提供一個很好的起始點。
更新時間:2025-12-02
探針,AFM探針,原子力顯微鏡探針,耗材
探針的工作模式:主要分為 掃描(接觸)模式和輕敲模式探針的結(jié)構(gòu):懸臂梁+針尖探針針尖曲率半徑tip radius:一般為10nm到幾十nm。制作工藝:半導體工藝制作
更新時間:2025-12-02
Dimension Icon掃描探針顯微系統(tǒng)(Dimension Icon Atomic Force Microscope System)
dimension icon 原子力顯微鏡(afm)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn),在聚合物、半導體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領(lǐng)域的納米研究中將會得到廣泛應用。dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的最新款設(shè)備,它基于世界上應用最廣泛的afm平臺,集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時間:2025-12-02
DI Innova 掃描探針顯微鏡
innova掃描探針顯微鏡(spm)具有高掃描分辨率、出色品質(zhì),可應用于物理、生命科學和材料科學等諸多領(lǐng)域。innova具有很強的靈活性,能以較低成本滿足各種科研應用要求。采用獨一無二的閉環(huán)掃描線性系統(tǒng),卓越的設(shè)計及工藝確保測量精度以及接近于開環(huán)運行時的噪音水平。innova可以輕松的在90微米掃描管上實現(xiàn)原子級分辨率。集成的高分辨率彩色光學系統(tǒng),以及可編程和電動z軸載物臺,使得尋找、對準被測區(qū)域,更換針尖或樣品更加快速簡便。
更新時間:2025-12-02

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