探針臺產(chǎn)品及廠家

氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-18
低溫三維探針臺的技術(shù)參數(shù)
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。磁場均勻性：中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。
更新時(shí)間:2025-06-18
高溫磁場加熱系統(tǒng) 探針臺
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2025-06-18
錦正茂科技低溫三維磁場探針臺 半導(dǎo)體測試
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2025-06-18
高低溫探針臺 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測試實(shí)驗(yàn)臺
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時(shí)間:2025-06-18
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-18
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2025-06-18
定制實(shí)驗(yàn)室探針臺高低溫真空探針測試系統(tǒng)材料測試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
氣氛型高溫探針臺 樣品材料電學(xué) 光學(xué)測試實(shí)驗(yàn)臺
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-18
真空探針臺高低溫測試實(shí)驗(yàn)臺材料測試霍爾測試
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
室溫探針臺實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測試儀器光學(xué)平臺
該類型的探針臺主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-06-18
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時(shí)間:2025-06-18
定制探針臺高低溫真空磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺
定制探針臺高低溫真空磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
實(shí)驗(yàn)室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺防輻射實(shí)驗(yàn)臺
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
JZM-D30室溫探針臺磁場、電源、樣品臺均可定制
該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-18
三維磁場探針臺多維磁場實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測試
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2025-06-18
多維磁場探針臺半導(dǎo)體材料光學(xué)測量實(shí)驗(yàn)室儀器
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-18
定制氣氛型高溫探針臺光學(xué)電學(xué)測試儀器
根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
更新時(shí)間:2025-06-18
高低溫真空探針臺材料測試電磁測試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
JZM-D30室溫探針臺磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺材料測試
探針臺主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-06-18
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
JZM-D30室溫探針臺材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器
jzm-d30室溫探針臺材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-18
氣氛型高溫探針臺半導(dǎo)體材料測量
氣氛型高溫探針臺半導(dǎo)體材料測量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試，測試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時(shí)間:2025-06-18
實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試 半導(dǎo)體測試儀器
實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
錦正茂科技 定制高低溫探針臺 芯片測試儀器
高低溫探針臺t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個(gè)80k-420k高低溫測試環(huán)境，
更新時(shí)間:2025-06-18
高？蒲袑(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-18
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時(shí)間:2025-06-18
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-18
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-18
MPI探針臺
mpi vega 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二管（vcsel、eel）和光學(xué)模塊市場的各種測試和材料處理要求。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺
mpi avior 系列為光通信市場提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 （tp）、倒裝芯片 （fp） 發(fā)射和裸片/封裝 （dp） 配置，以滿足您的特定測試要求。無論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn)，mpi的解決方案都能滿足您對準(zhǔn)確可靠測量的需求，同時(shí)降低測試成本。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺
micro led（μled）是顯示行業(yè)的顛覆性光學(xué)技術(shù)突破。micro led顯示器為消費(fèi)/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力，因?yàn)榕c其他發(fā)射設(shè)備相比，它們更亮、更快、使用壽命更長。憑借在光電器件測試方面積累的多年經(jīng)驗(yàn)和客戶互動(dòng)，mpi 推出了 gemini 系列晶圓探針臺，可提供快速、高效和精確的測量，幫助您應(yīng)對 micro led 測試和測量挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺
capella系列探針臺支持從晶圓到封裝芯片的所有l(wèi)ed產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學(xué)表征。無論您是需要高性能、高性價(jià)比還是業(yè)探針系統(tǒng)，mpi pa 都能提供全面的 led 晶圓/芯片探針機(jī)系列，以滿足您的嚴(yán)格要求。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺
formfactor為其一流的150 mm探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價(jià)格配置個(gè)性化探頭解決方案，以滿足當(dāng)和未來的需求。只需選擇一個(gè)基站，并根據(jù)需要添加任意數(shù)量的特定應(yīng)用入門套件。這款手動(dòng)探針臺是一款為初學(xué)者和小型實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的入門設(shè)備。它可以用于對各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行電流-電壓(iv)和電容-電壓(cv)特性的測試與分析。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺
入門手動(dòng)探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合formfactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是formfactor多年開發(fā)自動(dòng)光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn) - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門用戶的需求量身定制。mps150-siph 可確保光纖可以精確對準(zhǔn)，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺
summit200探針臺為研發(fā)、設(shè)備表征/建模或利基生產(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進(jìn)行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測量，具有半自動(dòng)和現(xiàn)在的全自動(dòng)操作，可盡快獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺
cm300xi 探針臺可應(yīng)對其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn)，例如在長時(shí)間和多種溫度下在小焊盤上進(jìn)行無人值守的測試。在 emi 屏蔽、光密和無濕氣的測試環(huán)境中，為各種應(yīng)用實(shí)現(xiàn)了一流的測量性能。熱管理增強(qiáng)功能和實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。對于低溫測試，formfactor的開放式iceshield™環(huán)境也可用于cm300xi。
更新時(shí)間:2025-06-13
HYPERTAC插針0151081-20-1G
hypertac插針0151081-20-1g技術(shù)參數(shù)
更新時(shí)間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA1AX
coda system有彈簧加載的組件，用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA2AX
coda system有彈簧加載的組件，用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS2000-DP Probe System 經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測試探針臺
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測試探針臺，可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測量，且測量能力高達(dá)3kv（三軸）/10kv（同軸）和600a（脈沖）。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS300-SE Probe System MPI 手動(dòng)晶圓探針臺系統(tǒng)（微屏蔽）
mpi ts300-shieldenvironment™（ts300-se）12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺結(jié)合在一起，使日常操作非常方便
更新時(shí)間:2025-06-13
TS200-SE Probe System MPI手動(dòng)晶圓探針臺系統(tǒng)（微屏蔽）
mpi ts200-shieldenvironment™（ts200-se）8英寸探針臺可提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS3500 Probe System 全自動(dòng)晶圓探針臺系統(tǒng)
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺具有相同的功能，并通過配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動(dòng)化的功能。mpi的解決方案通過提供比其他供應(yīng)商的半自動(dòng)化產(chǎn)品更少的完全自動(dòng)化功能，降低了客戶的總體測試成本。
更新時(shí)間:2025-06-13
SiPH Probe System 半自動(dòng)晶圓探針臺系統(tǒng)
mpi為其的ts2000-se，ts3000，ts3000-se，ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升，
更新時(shí)間:2025-06-13
TS3000 Probe System 半自動(dòng)300mm探針臺測試系統(tǒng)
mpi的ts3000是半自動(dòng)300mm探針臺測試系統(tǒng)，搭配獨(dú)特的可開放式下做高低溫測試，門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-13
超低溫磁場探針臺
半自動(dòng)真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測試。低溫探針臺，設(shè)計(jì)用于支持在真空或氣體環(huán)境中對高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動(dòng)動(dòng)或半自動(dòng)測試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個(gè)振動(dòng)補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_上，能夠配置來各種測試應(yīng)用程序。
更新時(shí)間:2025-06-13
納米探針臺
納米探測面臨的挑戰(zhàn)· 定位精度· 安全（軟）著陸接觸· 具有適當(dāng)尖端半徑的可靠探針頭· 清潔環(huán)境：試驗(yàn)箱、樣品、探針頭· 振動(dòng)敏感性低· 噪聲抑制· 漂移補(bǔ)償· 電路編輯/延遲：在fib角度操作
更新時(shí)間:2025-06-13
三維磁場探針臺
更新時(shí)間:2025-06-13

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑