薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

C640高精度薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度儀 薄膜厚度測(cè)量儀
c640高精度薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度儀 薄膜厚度測(cè)量儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-12-02
固體電絕緣體厚度檢測(cè)儀 電容器隔薄測(cè)厚儀
固體電絕緣體厚度檢測(cè)儀 電容器隔薄測(cè)厚儀（型號(hào)c640）采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
更新時(shí)間:2025-12-02
MC-2010A涂鍍層測(cè)厚儀
濟(jì)寧祥和時(shí)代檢測(cè)儀器有限公司生產(chǎn)涂鍍層測(cè)厚儀 ： ● 無損測(cè)量金屬、塑料、玻璃等材料上的涂層厚度，測(cè)量快速精確。 ● 堅(jiān)固的防靜電、防火金屬外殼。 ● 適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-12-02
反射膜厚儀
反射膜厚儀rm 1000和rm 2000反射膜厚儀rm 1000和rm 2000，反射膜厚儀rm 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近紅外光譜范圍。光學(xué)布局為光吞吐量優(yōu)化，以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地測(cè)量n和k。精確的高度和傾斜特別適用于精確的單光束反射率測(cè)量，且測(cè)量非常穩(wěn)定。以激光橢偏儀的亞埃精度將可測(cè)量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。
更新時(shí)間:2025-12-02
高精度薄膜紙張厚度測(cè)試儀 機(jī)械接觸式測(cè)厚儀
ftt-01 測(cè)厚儀高精度薄膜測(cè)厚儀電池隔膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確
更新時(shí)間:2025-12-02
機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀 薄膜薄片隔膜紙張箔片硅片
機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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高精度國標(biāo)ISO標(biāo)準(zhǔn)機(jī)械測(cè)定法薄膜測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜測(cè)厚儀
目的和應(yīng)用：薄膜測(cè)厚儀用于以下兩個(gè)領(lǐng)域： 它可用于測(cè)量金屬箔片、塑料薄膜、紙板、紙張和其它薄片的厚度。 第二個(gè)也是更重要的應(yīng)用為測(cè)量薄基材上的涂層材料厚度。 如果基材為非金屬那么磁性或電子測(cè)量方法便不能應(yīng)用。對(duì)于非破壞測(cè)量，此儀器是可能的測(cè)量差異方法。
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe系列薄膜測(cè)厚儀
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：cauchy, tauc-lorentz, cody-lorentz, ema等
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被mprobe vis測(cè)厚儀測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀
mprobe uvvissr薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe RT薄膜測(cè)厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe NIR薄膜測(cè)厚儀
采用近紅外光譜(nir)的薄膜測(cè)厚儀，可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-12-02
MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀
使用應(yīng)力控制，避免薄膜分層，形成凹凸?fàn)睢?特別的光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備FSM 128
在襯底鍍上薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣, 所以會(huì)引起應(yīng)力. 如應(yīng)力太大會(huì)引起薄膜脫落, 最終引致組件失效或可靠性不佳的問題. 薄膜應(yīng)力激光測(cè)量儀利用激光測(cè)量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以stoney’s equation計(jì)算出應(yīng)力, 是品檢及改進(jìn)工藝的有效手段。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜應(yīng)力量測(cè)儀Line Card
薄膜應(yīng)力量測(cè)儀line card
更新時(shí)間:2025-12-02
FR便攜式膜厚測(cè)定儀
fr-portable（便攜式fr） 是一款獨(dú)特設(shè)備，為精準(zhǔn)測(cè)試單層或者 多層的透明和半透明的薄膜的光學(xué)特性提供了關(guān)鍵解決方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光譜范圍內(nèi)完成薄膜反射比的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-12-02
氮化硅薄膜窗口
x-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時(shí)承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作(即薄膜與光束成一定角度)時(shí)，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜熱縮性能測(cè)試儀試驗(yàn)機(jī)
適用于各種薄膜、藥用pvc硬片、背板等材料在熱收縮過程中的熱縮力、冷縮力、以及熱收縮率等性能的定量測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-12-02
反射式膜厚測(cè)量儀
非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。? 高精度、高再現(xiàn)性測(cè)量紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率，k消光系數(shù)）。? 寬闊的波長測(cè)量范圍。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚測(cè)量范圍。（1nm~250μm）? 對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距測(cè)量口徑。
更新時(shí)間:2025-12-02
橢圓偏光膜厚測(cè)試儀（自動(dòng)）
? 橢圓偏振術(shù)測(cè)量紫外光到可見光波長橢圓參數(shù)。? 0.1nm以上奈米級(jí)光學(xué)薄膜厚度測(cè)量。? 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速測(cè)量橢圓偏光光譜。? 可自由變換反射測(cè)量角度，得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。? 非線性最小平方法解析多層膜、光學(xué)常數(shù)。
更新時(shí)間:2025-12-02
橢圓偏光膜厚測(cè)量儀（手動(dòng)）
? 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速測(cè)量橢圓偏光光譜。? 自動(dòng)變更反射測(cè)量角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。? 采用正弦桿自動(dòng)驅(qū)動(dòng)方式，展現(xiàn)測(cè)量角度變更時(shí)優(yōu)異的移動(dòng)精度。? 搭載薄膜分析所需的全角度同時(shí)測(cè)量功能。? 可測(cè)量晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
更新時(shí)間:2025-12-02
嵌入式膜厚測(cè)試儀
自由搭配的光纖架構(gòu)，可安裝于生產(chǎn)線上、半導(dǎo)體晶圓研磨設(shè)備或真空鍍膜設(shè)備中。? 遠(yuǎn)端同步控制、高速多點(diǎn)同步測(cè)量等。? 豐富多樣的光學(xué)系統(tǒng)套件與應(yīng)用軟件，提供特殊環(huán)境下最理想的膜厚解決方案。
更新時(shí)間:2025-12-02
ISTEQ 等離子體寬帶光源
isteq的xws系列激光泵浦等離子體寬帶光源是一款高亮度、高穩(wěn)定、長壽命的寬譜 光源，采用激光器輸入連續(xù)的泵浦激光來激發(fā)等離子體放電發(fā)光，從而產(chǎn)生高度穩(wěn)定的白光。
更新時(shí)間:2025-12-02
膜厚測(cè)試儀
美國filmetrics公司出品的f20 膜厚測(cè)量儀,可快速簡(jiǎn)便的測(cè)量透光薄膜的光學(xué)參數(shù)(n,k值),可在幾秒內(nèi)測(cè)量并分析薄膜的表層和底層的反射光譜得到膜厚,折射率參數(shù)。
更新時(shí)間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe UVVisSR
mprobe uvvissr薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時(shí)間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe RT
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時(shí)間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe NIR
采用近紅外光譜(nir)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-12-02
顯微反射膜厚儀MProbe MSP
mprobe msp顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：cauchy, tauc-lorentz, cody-lorentz, ema等。
更新時(shí)間:2025-12-02
 瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜烘箱（85型）syd-0610是按照中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)jtj052《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗(yàn)規(guī)程》中t 0610 《瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜加熱試驗(yàn)》規(guī)定的要求設(shè)計(jì)制造的。本儀器適
更新時(shí)間:2025-12-02
瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜烘箱（82型）syd-0609是按照中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)jtj052-2000《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗(yàn)規(guī)程》中t0609-1993《瀝青薄膜加熱試驗(yàn)》的要求設(shè)計(jì)生產(chǎn)的，適用于測(cè)定道
更新時(shí)間:2025-12-02
油漆遮蓋率測(cè)試儀 、薄膜遮蓋力 反射率測(cè)定儀
這款新型的novo-shade duo具有雙重功能，在45度角下既能測(cè)量反射率，又能測(cè)量遮蓋力。自動(dòng)校準(zhǔn)，安全快捷？蛇B續(xù)測(cè)量，快速檢驗(yàn)大面積表層的顏色或遮蓋力變化
更新時(shí)間:2025-12-02
鐵基測(cè)厚儀
positector6000測(cè)厚儀,鐵基測(cè)厚儀，一體式探頭分為：基本型，統(tǒng)計(jì)型，存儲(chǔ)型
更新時(shí)間:2025-12-02
內(nèi)膜厚測(cè)量儀,天瑞儀器
thick800a型x熒光鍍層測(cè)厚儀采用x熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。
更新時(shí)間:2025-12-02
膜厚測(cè)試儀,天瑞儀器
x射線電鍍膜厚檢測(cè)儀thick800a同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也樣能勝任.自動(dòng)xyz樣品臺(tái),自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品，是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的，可測(cè)量各類金屬層、合金電鍍厚度。
更新時(shí)間:2025-12-02
天瑞X射線熒光膜厚測(cè)試儀,天瑞儀器
x射線熒光鍍層膜厚測(cè)試儀thick800a 生產(chǎn)廠家：江蘇天瑞儀器股份有限公司。用于金屬電鍍厚度分析，鍍鎳層測(cè)厚儀 鍍金層測(cè)厚儀 鍍鋅測(cè)厚儀 鍍銀測(cè)厚儀 鍍鉻測(cè)厚儀 鍍銅測(cè)厚儀。
更新時(shí)間:2025-12-02
鍍層膜厚光譜儀,天瑞儀器
江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)研制生產(chǎn)鍍層膜厚光譜儀。thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時(shí)間:2025-12-02
鍍層膜厚分析儀,天瑞儀器
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。漆膜厚度、氧化膜厚度的檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-12-02
XRF膜厚儀,天瑞儀器
xrf膜厚儀由江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售的款分析儀器，江蘇天瑞儀器股份有限公司為家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)儀器的上市企業(yè)，也是內(nèi)的實(shí)驗(yàn)室儀器生產(chǎn)商，公司總部位于美麗的昆山市中華園西路1888號(hào)，歡迎客戶前來參觀。
更新時(shí)間:2025-12-02
金屬鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀_天瑞儀器
早期，測(cè)厚儀基本被外廠家（德費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做金屬鍍層測(cè)厚儀，是家專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀的廠家，在x熒光鍍層檢測(cè)方面，打破外的技術(shù)壟斷。天瑞推出的thick600在精度上，可以現(xiàn)場(chǎng)與進(jìn)口儀器現(xiàn)場(chǎng)pk；在價(jià)格上，可以給用戶的優(yōu)惠；在技術(shù)支持與售后服務(wù)上，給到客戶的是完善的售后支持。
更新時(shí)間:2025-12-02
X射線熒光膜厚測(cè)試儀,江蘇天瑞儀器股份有限公司
thick800a型x射線鍍層測(cè)厚儀是經(jīng)過天瑞儀器集多年的經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)用于電鍍層行業(yè)的款無損測(cè)試儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)，完達(dá)到了自動(dòng)化，是款功能強(qiáng)大的儀器，為客戶解決了測(cè)試難題，在行業(yè)中大展身手。
更新時(shí)間:2025-12-02
光膜厚儀
thick800a型x射線鍍層測(cè)厚儀是經(jīng)過天瑞儀器集多年的經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)用于電鍍層行業(yè)的款無損測(cè)試儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)，完達(dá)到了自動(dòng)化，是款功能強(qiáng)大的儀器，為客戶解決了測(cè)試難題，在行業(yè)中大展身手。
更新時(shí)間:2025-12-02
X射線膜厚儀,廠價(jià)直銷,江蘇天瑞儀器股份有限公司
x射線膜厚檢測(cè)儀是通過次x射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值，電腦操作，非常簡(jiǎn)單，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)x射線膜厚檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家，thick8000是公司新款的x射線膜厚檢測(cè)儀，采用上照方式，移動(dòng)測(cè)試平臺(tái)，使整個(gè)自動(dòng)化程度大幅度提高，滿足快速的要求。
更新時(shí)間:2025-12-02
膜厚儀,,江蘇天瑞儀器股份有限公司
thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時(shí)間:2025-12-02
電子元件膜厚儀，天瑞儀器
江蘇天瑞儀器股份有限公司是的鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價(jià)比，在行業(yè)內(nèi)銷量多，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜薄膜TSY-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
tsy-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-12-02
薄膜和薄片測(cè)厚儀_紙張和紙板測(cè)厚儀_測(cè)量度
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
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塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-薄膜測(cè)厚儀-數(shù)字顯示
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
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塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-測(cè)量度
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
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