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薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
MProbe系列MProbe系列薄膜測(cè)厚儀
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:cauchy, tauc-lorentz, cody-lorentz, ema等
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
MProbe VisMProbe Vis薄膜測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被mprobe vis測(cè)厚儀測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀
mprobe uvvissr薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
MProbe RTMProbe RT薄膜測(cè)厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
MProbe NIRMProbe NIR薄膜測(cè)厚儀
采用近紅外光譜(nir)的薄膜測(cè)厚儀,可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測(cè)量。
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類(lèi)金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀
使用應(yīng)力控制,避免薄膜分層,形成凹凸?fàn)睢?特別的光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉。
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
128 Series薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備FSM 128
在襯底鍍上薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣, 所以會(huì)引起應(yīng)力. 如應(yīng)力太大會(huì)引起薄膜脫落, 最終引致組件失效或可靠性不佳的問(wèn)題. 薄膜應(yīng)力激光測(cè)量?jī)x利用激光測(cè)量樣本的形貌,透過(guò)比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以stoney’s equation計(jì)算出應(yīng)力, 是品檢及改進(jìn)工藝的有效手段。
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
Line Card薄膜應(yīng)力量測(cè)儀Line Card
薄膜應(yīng)力量測(cè)儀line card
更新時(shí)間:
2025-12-02
該公司產(chǎn)品分類(lèi):
鉑悅儀器(上海)有限公司
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