薄膜測厚儀產(chǎn)品及廠家

固體電絕緣體厚度檢測儀 電容器隔薄測厚儀
固體電絕緣體厚度檢測儀 電容器隔薄測厚儀（型號c640）采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
更新時間:2025-12-02
MC-2010A涂鍍層測厚儀
濟寧祥和時代檢測儀器有限公司生產(chǎn)涂鍍層測厚儀 ： ● 無損測量金屬、塑料、玻璃等材料上的涂層厚度，測量快速精確。 ● 堅固的防靜電、防火金屬外殼。 ● 適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-12-02
反射膜厚儀
反射膜厚儀rm 1000和rm 2000反射膜厚儀rm 1000和rm 2000，反射膜厚儀rm 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近紅外光譜范圍。光學布局為光吞吐量優(yōu)化，以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地測量n和k。精確的高度和傾斜特別適用于精確的單光束反射率測量，且測量非常穩(wěn)定。以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴展到25埃米，從而明確地確定厚度。
更新時間:2025-12-02
高精度薄膜紙張厚度測試儀 機械接觸式測厚儀
ftt-01 測厚儀高精度薄膜測厚儀電池隔膜測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確
更新時間:2025-12-02
機械接觸式薄膜測厚儀 薄膜薄片隔膜紙張箔片硅片
機械接觸式薄膜測厚儀嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-02
高精度國標ISO標準機械測定法薄膜測厚儀
薄膜測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-02
薄膜測厚儀
目的和應用：薄膜測厚儀用于以下兩個領(lǐng)域： 它可用于測量金屬箔片、塑料薄膜、紙板、紙張和其它薄片的厚度。 第二個也是更重要的應用為測量薄基材上的涂層材料厚度。 如果基材為非金屬那么磁性或電子測量方法便不能應用。對于非破壞測量，此儀器是可能的測量差異方法。
更新時間:2025-12-02
MProbe系列薄膜測厚儀
適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：cauchy, tauc-lorentz, cody-lorentz, ema等
更新時間:2025-12-02
MProbe Vis薄膜測厚儀
薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被mprobe vis測厚儀測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。
更新時間:2025-12-02
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀
mprobe uvvissr薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時間:2025-12-02
MProbe RT薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時間:2025-12-02
MProbe NIR薄膜測厚儀
采用近紅外光譜(nir)的薄膜測厚儀，可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測量。
更新時間:2025-12-02
MProbe MSP顯微薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。
更新時間:2025-12-02
薄膜應力和硅片翹曲檢測儀
使用應力控制，避免薄膜分層，形成凹凸狀。 特別的光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
更新時間:2025-12-02
薄膜應力及基底翹曲測試設備FSM 128
在襯底鍍上薄膜后, 因為兩者材質(zhì)不一樣, 所以會引起應力. 如應力太大會引起薄膜脫落, 最終引致組件失效或可靠性不佳的問題. 薄膜應力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以stoney’s equation計算出應力, 是品檢及改進工藝的有效手段。
更新時間:2025-12-02
薄膜應力量測儀Line Card
薄膜應力量測儀line card
更新時間:2025-12-02
FR便攜式膜厚測定儀
fr-portable（便攜式fr） 是一款獨特設備，為精準測試單層或者 多層的透明和半透明的薄膜的光學特性提供了關(guān)鍵解決方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光譜范圍內(nèi)完成薄膜反射比的測試。
更新時間:2025-12-02
氮化硅薄膜窗口
x-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作(即薄膜與光束成一定角度)時，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時間:2025-12-02
薄膜熱縮性能測試儀試驗機
適用于各種薄膜、藥用pvc硬片、背板等材料在熱收縮過程中的熱縮力、冷縮力、以及熱收縮率等性能的定量測試。
更新時間:2025-12-02
反射式膜厚測量儀
非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。? 高精度、高再現(xiàn)性測量紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)（n：折射率，k消光系數(shù)）。? 寬闊的波長測量范圍。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚測量范圍。（1nm~250μm）? 對應顯微鏡下的微距測量口徑。
更新時間:2025-12-02
橢圓偏光膜厚測試儀（自動）
? 橢圓偏振術(shù)測量紫外光到可見光波長橢圓參數(shù)。? 0.1nm以上奈米級光學薄膜厚度測量。? 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速測量橢圓偏光光譜。? 可自由變換反射測量角度，得到更詳細的薄膜解析數(shù)據(jù)。? 非線性最小平方法解析多層膜、光學常數(shù)。
更新時間:2025-12-02
橢圓偏光膜厚測量儀（手動）
? 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速測量橢圓偏光光譜。? 自動變更反射測量角度，可得到更詳細的薄膜解析數(shù)據(jù)。? 采用正弦桿自動驅(qū)動方式，展現(xiàn)測量角度變更時優(yōu)異的移動精度。? 搭載薄膜分析所需的全角度同時測量功能。? 可測量晶圓與金屬表面的光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
更新時間:2025-12-02
嵌入式膜厚測試儀
自由搭配的光纖架構(gòu)，可安裝于生產(chǎn)線上、半導體晶圓研磨設備或真空鍍膜設備中。? 遠端同步控制、高速多點同步測量等。? 豐富多樣的光學系統(tǒng)套件與應用軟件，提供特殊環(huán)境下最理想的膜厚解決方案。
更新時間:2025-12-02
ISTEQ 等離子體寬帶光源
isteq的xws系列激光泵浦等離子體寬帶光源是一款高亮度、高穩(wěn)定、長壽命的寬譜 光源，采用激光器輸入連續(xù)的泵浦激光來激發(fā)等離子體放電發(fā)光，從而產(chǎn)生高度穩(wěn)定的白光。
更新時間:2025-12-02
膜厚測試儀
美國filmetrics公司出品的f20 膜厚測量儀,可快速簡便的測量透光薄膜的光學參數(shù)(n,k值),可在幾秒內(nèi)測量并分析薄膜的表層和底層的反射光譜得到膜厚,折射率參數(shù)。
更新時間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe UVVisSR
mprobe uvvissr薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe RT
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
更新時間:2025-12-02
反射膜厚儀MProbe NIR
采用近紅外光譜(nir)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測量。
更新時間:2025-12-02
顯微反射膜厚儀MProbe MSP
mprobe msp顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：cauchy, tauc-lorentz, cody-lorentz, ema等。
更新時間:2025-12-02
 瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜烘箱（85型）syd-0610是按照中華人民共和國行業(yè)標準jtj052《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗規(guī)程》中t 0610 《瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜加熱試驗》規(guī)定的要求設計制造的。本儀器適
更新時間:2025-12-02
瀝青旋轉(zhuǎn)薄膜烘箱（82型）syd-0609是按照中華人民共和國行業(yè)標準jtj052-2000《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗規(guī)程》中t0609-1993《瀝青薄膜加熱試驗》的要求設計生產(chǎn)的，適用于測定道
更新時間:2025-12-02
油漆遮蓋率測試儀 、薄膜遮蓋力 反射率測定儀
這款新型的novo-shade duo具有雙重功能，在45度角下既能測量反射率，又能測量遮蓋力。自動校準，安全快捷。可連續(xù)測量，快速檢驗大面積表層的顏色或遮蓋力變化
更新時間:2025-12-02
鐵基測厚儀
positector6000測厚儀,鐵基測厚儀，一體式探頭分為：基本型，統(tǒng)計型，存儲型
更新時間:2025-12-02
內(nèi)膜厚測量儀,天瑞儀器
thick800a型x熒光鍍層測厚儀采用x熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。
更新時間:2025-12-02
膜厚測試儀,天瑞儀器
x射線電鍍膜厚檢測儀thick800a同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也樣能勝任.自動xyz樣品臺,自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品，是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的，可測量各類金屬層、合金電鍍厚度。
更新時間:2025-12-02
天瑞X射線熒光膜厚測試儀,天瑞儀器
x射線熒光鍍層膜厚測試儀thick800a 生產(chǎn)廠家：江蘇天瑞儀器股份有限公司。用于金屬電鍍厚度分析，鍍鎳層測厚儀 鍍金層測厚儀 鍍鋅測厚儀 鍍銀測厚儀 鍍鉻測厚儀 鍍銅測厚儀。
更新時間:2025-12-02
鍍層膜厚光譜儀,天瑞儀器
江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)研制生產(chǎn)鍍層膜厚光譜儀。thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時間:2025-12-02
鍍層膜厚分析儀,天瑞儀器
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。漆膜厚度、氧化膜厚度的檢測。
更新時間:2025-12-02
XRF膜厚儀,天瑞儀器
xrf膜厚儀由江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售的款分析儀器，江蘇天瑞儀器股份有限公司為家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)儀器的上市企業(yè)，也是內(nèi)的實驗室儀器生產(chǎn)商，公司總部位于美麗的昆山市中華園西路1888號，歡迎客戶前來參觀。
更新時間:2025-12-02
金屬鍍層測厚儀、膜厚儀_天瑞儀器
早期，測厚儀基本被外廠家（德費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做金屬鍍層測厚儀，是家專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀的廠家，在x熒光鍍層檢測方面，打破外的技術(shù)壟斷。天瑞推出的thick600在精度上，可以現(xiàn)場與進口儀器現(xiàn)場pk；在價格上，可以給用戶的優(yōu)惠；在技術(shù)支持與售后服務上，給到客戶的是完善的售后支持。
更新時間:2025-12-02
X射線熒光膜厚測試儀,江蘇天瑞儀器股份有限公司
thick800a型x射線鍍層測厚儀是經(jīng)過天瑞儀器集多年的經(jīng)驗，研發(fā)用于電鍍層行業(yè)的款無損測試儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺，完達到了自動化，是款功能強大的儀器，為客戶解決了測試難題，在行業(yè)中大展身手。
更新時間:2025-12-02
光膜厚儀
thick800a型x射線鍍層測厚儀是經(jīng)過天瑞儀器集多年的經(jīng)驗，研發(fā)用于電鍍層行業(yè)的款無損測試儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺，完達到了自動化，是款功能強大的儀器，為客戶解決了測試難題，在行業(yè)中大展身手。
更新時間:2025-12-02
X射線膜厚儀,廠價直銷,江蘇天瑞儀器股份有限公司
x射線膜厚檢測儀是通過次x射線穿透金屬元素樣品時產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，電腦操作，非常簡單，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)x射線膜厚檢測儀生產(chǎn)廠家，thick8000是公司新款的x射線膜厚檢測儀，采用上照方式，移動測試平臺，使整個自動化程度大幅度提高，滿足快速的要求。
更新時間:2025-12-02
膜厚儀,,江蘇天瑞儀器股份有限公司
thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時間:2025-12-02
電子元件膜厚儀，天瑞儀器
江蘇天瑞儀器股份有限公司是的鍍層測厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價比，在行業(yè)內(nèi)銷量多，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀。
更新時間:2025-12-02
薄膜薄膜TSY-35塑料薄膜和薄片測厚儀
tsy-35塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-12-02
薄膜和薄片測厚儀_紙張和紙板測厚儀_測量度
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-12-02
塑料薄膜和薄片測厚儀-薄膜測厚儀-數(shù)字顯示
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-12-02
塑料薄膜和薄片測厚儀-測量度
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-12-02
不銹鋼土工布測厚儀-MTS
本儀器采用杠桿原理，放大了加壓力臂長度，在有限的空間和有限的砝碼質(zhì)量條件下，實行了對試樣2kpa、20kpa、200kpa壓力條件下測試其厚度。其儀器結(jié)構(gòu)簡單、造型美觀大方、便于操作，是生產(chǎn)、檢定土工布和土工膜厚度的儀器。該儀器適用于gb/t13761«土工布厚度的測定方法»、t1112-2006«厚度測定&r
更新時間:2025-12-02

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑